ポゴピン

標準的なポゴピンの構成品を示す分解図

基本的なポゴピンはプランジャーとバレルとバネの3つの主要な部品からなる[2]。ピンに力が加わると、バネが圧縮され、プランジャーがバレルの中に動く。バレルはプランジャーがバネによって飛び出さないような形状となっている。

電気接点の設計においては、コネクタがずれないようにし、接続を保つためにある程度の摩擦が必要である。しかしながら、大きな摩擦は接点のばねやハウジングのストレスや摩耗を増加させるため望ましくない。このため、典型的には1ニュートンほどの抗力がこの摩擦を生み出すために必要である[3]。プランジャーとバレルの間には動きやすくするための小さな隙間が存在するため、振動や動きがある際には断続的な切断が発生する。これに対処するため、プランジャーには通常、小さな傾きが存在する。

多くのメーカーはこの設計への独自のバリエーションを開発しており、最も典型的にはプランジャーとバネの間のインターフェースを変更している。例えば、プランジャーとバネの間にボールを追加されたり、傾きや皿もみの付いたプランジャーが採用されている[4]。

様々なポゴピンのデザイン

ポゴピンのプランジャーとバレルには通常、真鍮や銅が用いられ、それにニッケルの薄い層がメッキされる[5]。

コネクタで通常行われるように、耐久性及び電気伝導性を改善するため、金メッキが施される場合が多い[6]。

バネには通常、銅合金やばね鋼が用いられる[7][8]。

ポゴピンを用いたコネクタは産業用および民生向け電子機器の両方において広く使用されている：

• 基板間コネクタ（通常、恒久的な接続）
• 民生向け機器（例：スマートウォッチ、強化コンピュータ）の防塵・防水コネクタ
• ノートパソコンのバッテリ電極
• 磁石式の充電、信号コネクタ（例：ノートパソコンのドックや充電器）  
• 高周波コネクタ（例：アンテナコネクタ、モニターコネクタ）
• プリント基板試験用
• 集積回路試験用[9]
• インサーキット・テスト
• 電池試験用
• その他電子機器試験用

ピン配置

ポゴピンがコネクタで使用される際、通常は緻密な格子状に配列される2つの電気回路の多数のノードを接続する。これらは自動試験装置でen:Bed of nails testerの形で見られ、テスト対象デバイス(DUT)に対する迅速で信頼できる接続を実現する。

ポゴピンはより恒久的な接続でも使用できる。例えば、Cray-2スーパーコンピュータで使用された[10]。

非常に高い性能が要求される用途においてはポゴピンは多数の接続/切断のサイクルを経ても高い信頼性を維持できるだけでなく、電気信号を高精度で伝送できるよう、非常に注意深く設計される必要がある。ピンは硬い必要があり、また、高い信頼性で接続が維持できる物質（例えば金）でめっきされる必要がある。ピンのボディ内部ではプランジャーはボディと良好な電気的な接続を保ち、高い抵抗値（及び不要なインダクタンス）を有するバネを信号が通らないようにする必要がある。インピーダンス整合の必要な回路で使用されるポゴピンの設計は特に困難であり、適切な特性インピーダンスを保つために、1つの信号ピンが4～6本の接地されたピンに囲われる場合もある。

Cray-2スーパーコンピュータの論理回路モジュールを接続するポゴピン

• コネクタ - ポゴピンが使用される場合がある
• インサーキット・テスト - ポゴピンの一般的な用途